SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PHILIPS ASSOCIATION
ACCUEIL
PRESENTATION
JOURNEES SEMPA
INSCRIPTION
ANNONCES
2020
20 avenue Albert Einstein
69621 Villeurbanne cedex
T + 33 (0)4 72 43 83 83
F + 33 (0)4 72 43 85 00
CONCOURS PHOTOS
1107.JPG
1110.JPG
1111.JPG
1112.JPG
1114.JPG
1116.JPG
1117.JPG
1119.JPG
1120.JPG
1121.JPG
1124.JPG
1125.JPG
1129.JPG
1130.JPG
1132.JPG
1134.JPG
1135.JPG
1137.JPG
1139.JPG
1140.JPG
1142.JPG
1143.JPG
1144.JPG
1147.JPG
1148.JPG
1150.JPG
1151.JPG
1153.JPG
1154.JPG
1155.JPG
1156.JPG
1159.JPG
1er PRIX
2ème PRIX
3ème PRIX
PRESENTATIONS
Effets du frottement en billard français (Sylvie Descartes, J. Lachambre, C. Desrayaud, Laboratoire LaMCoS, INSA de Lyon)
PHOTOS EN LISSE
Pour regarder cette vidéo, il faut télécharger ou activer:
Flash
(télécharger)
ou
QuickTime
(télécharger)
Microscopie Électronique à Balayage environnementale pour l’étude de matrices alimentaires (Bruno Novales / INRAe Nantes)
Thermo Scientific™ Phenom Desktop SEMs for material and life science applications (Keriya Mam / Thermo Fisher Scientific)
eCHORD pour la caractérisation multiéchelle des alliages d'aluminium au MEB (Romain Faschinetti, S.Cazottes, Ph. Steyer, T. Douillard, C. Maurice, J. Chevy, C. Langlois / Laboratoire MATEIS, INSA de Lyon)
Vers l'imagerie automatique des dislocations au MEB en mode ECCI (Julien Gallet, C., M. Perez, T. Chaise, T. Douillard, P. Steyer, S. Cazottes / Laboratoire MATEIS, INSA de Lyon)
ColorSEM: Une révolution en imagerie MEB et en micro-analyse par Trentin Michel - ThermoFisher Scientific
Le cryo-Teneo Volumescope-X, un meilleur compromis pour une plate-forme technologique mutualisée de recherches. (Émile Béré / Université de Poitiers)
FurnaSEM : un nouveau four et de nouveaux modes d’imageries pour la Microscopie Électronique à Balayage à haute température (Jérôme Mendonça, R. Podor, J. Lautru, A. Canderas, D. Nogues, A. Kolouch / Institut de Chimie Séparative de Marcoule)
Le marquage de surface au service de la corrélation d’images (Alexandre Tanguy / École Polytechnique Palaiseau)
Image Processing And Quantification for Electron Microscopy (Harold Phelippeau / ThermoFisherScientific)
Latest developments in the DualBeam technology (Anna Prokhodtseva / Thermo Fisher Scientific)
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PHILIPS ASSOCIATION
Association n° W832000861 régie par la loi du 1er Juillet 1901
Pour toute mise à jour du site:
contactwebmaster@sempa-france.com
Infos Légales