SEMPA 2025

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PHILIPS ASSOCIATION

ACCUEIL

PRESENTATION

JOURNEES SEMPA

INSCRIPTION

ANNONCES

2025

CONCOURS PHOTOS

1er PRIX

2ème PRIX

3ème PRIX

PRESENTATIONS

PHOTOS EN LISSE

Présentation de la plateforme de microscopie (Dr Egle Conforto)

Apport de la microscopie électronique à l'évaluation des propriétés fonctionnelles de
surfaces à base de Zn (Prof. Juan Creus, LaSIE).

Utilisations du MEB au sein de l'IRCGN (Thierry Lumen, IRCGN).

Caractérisation de la déformation et de l’endommagement de roches argileuses lors
d'une compression mécanique in-situ ESEM (humidité contrôlée) couplée aux mesures de vitesse de
propagation des ondes ultrasoniques." (Matthieu Lusseyran, Polytechnique).

Apport du MEB-AXIA pour l'analyse morphologique et chimique de tous les
composants d'une batterie au lithium (Philippe Moreau, IMN Nantes).

Environmental scanning microscopy as a tool for optimizing the formulation of
biopolymer microparticles (Jérémy Carpentier, INNOVIA).

L’EBSD : pourquoi, quelles limites, et comment les contourner ? (François Brisset,
Université Paris Saclay).

Couplage XPS – SEM Axia (Salomé Larmier, Thermo Fisher Scientific).

Etude de la déformation de pistes conductrices imprimées soumises à un étirement
longitudinal par Microscopie Electronique à Balayage (Marie Goizet, Pagora Grenoble).

Caractérisation de nanoplastiques dans le cadre d'une contamination de la base du
réseau trophique aquatique (Adelaïde Lerebours, La Rochelle Université, LIENSS)

Dépasser les limites de l’EDS pour des analyses à haute résolution spatiale et basses
concentrations (Daniel Funes, Oxford Instruments).

Présentation détecteur TruePix EBSD (Chris Stephens, Thermo Fisher Scientific).

L'apport de la microscopie électronique à l'étude de la fragilisation par hydrogène des
alliages et des métaux (Abdelali Oudriss, La Rochelle Université/LaSIE)

Microanalyse X, quelques principes de base à respecter (J. Ruste).

Laser MEB: LASEM peut-il devenir un accessoire du MEB ? (Alexandre Tanguy,
Polytechnique)

Contribution of scanning electron microscopy for a deeper understanding of hightemperature
corrosion of alloys in contact with inorganic salts (Benjamin Grégoire, La Rochelle
Université, LaSIE)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PHILIPS ASSOCIATION
Association n° W832000861 régie par la loi du 1er Juillet 1901

Pour toute mise à jour du site:
contactwebmaster@sempa-france.com

Infos Légales